Servizio di Microscopia Elettronica – Caratteristiche
Microscopio Elettronico a Trasmissione FEI Tecnai G2 F20

Caratteristiche

  • Sorgente Field Emission Gun (FEG).
  • Voltaggio di accelerazione di 200 KV.
  • Pezzi polari S-Twin con una risoluzione punto a punto di 0.24 nm.
  • Spettrometri a dispersione di Energia (EDS) con finestra ultrasottile.
  • Acquisizione di immagini mediante detector TV rate 626 GATAN e slow scan CCD 974 GATAN.
  • Porta campione a doppio tilt con movimento computerizzato.

Livelli di utilizzo

  • Studi strutturali mediante cristallografia elettronica:
    • intercrescite;
    • smescolamenti;
    • nanoprecipitati;
    • interfacce.
  • Studi di difetti.

Specifiche tecniche

  • Risoluzione puntuale (nm) 0.24
  • Risoluzione lineare (nm) 0.1
  • Limite d’informazione (nm) 0.15
  • Cs obiettivo (mm) 1.2
  • Cc obiettivo (mm) 1.2
  • Lunghezza focale (mm) 1.7
  • Minimo passo focale (nm) 1.8
  • Massimo tilt eucentrico ± 40°
  • Ingrandimento TEM 25x – 1030 kx
  • Lunghezza della camera in diffrazione (mm) 40 – 4300
  • Massimo mezzo angolo in diffrazione ± 12°

Contatti

Prof. Fernando Cámara Artigas fernando.camara@unimi.it

Referente tecnico

Dr. Nicola Rotiroti nicola.rotiroti@unimi.it
tel. +39 02 503 15604

Esempio di Applicazione: Difettività e non-idealità
della soluzione solida åkermanite-gehlenite (Ca2Mg2SiO7 – Ca2Al2SiO7)*

Immagine di elettroni ad alta risoluzione di åk08 nell’asse di zona [100]. Sono visibili tre diversi cristalli di cristallo (1, 2, 3). Le frecce indicano i bordi dei grani che sono approssimativamente normali all’asse c. Ogni grano è leggermente disallineato rispetto all’altro.

Struttura della gehlenite

(in alto) Immagine ad alta risoluzione di una grano di cristallo di gehlenite, orientata in [001]. Il cristallo è distorto, come si può vedere dalla piegatura dei piani {100} cristallografici.

(in basso) Per il confronto, è riportata l’immagine ad alta risoluzione di un cristallo åk95 ben cristallizzato orientato in [001]. La differenza tra le due immagini è evidente.

(in alto) [001] pattern di diffrazione elettronica di åk con caratteristiche forti modulazione bidimensionale.

(in basso) [001] pattern di diffrazione elettronica di åk95. I punti deboli dei satelliti sono ancora visibili

(*) Non-ideality and defectivity of the åkermanite-gehlenite solid solution: An X-ray diffraction and TEM study (2007), American Mineralogist 92(10):1685-1694, DOI:10.2138/am.2007.2380 – M. Gemmi, M. Merlini, G. Cruciani, G. Artioli